【日新论坛】第158讲

报告题目：原子分辨STEM成像技术及应用：从静态表征、原位动态观测到数据深度解析

报告时间：2025年12月31日（星期三）上午09:30

报告地点：阳光楼南913-1会议室

报告人：张斌 副研究员 （重庆大学）

个人简介：张斌，副研究员，专注于透射电子显微学、功能材料显微结构与构效关系研究。2017年加入重庆大学分析测试中心以来，完成了显微分析平台的主要建设工作，目前主要负责中心的聚焦离子束（FIB）、球差校正电镜等先进显微设备的运行维护与技术开发。迄今已合作发表学术论文200余篇，总引用超6000次；开发与推广多项显微技术，授权国家发明专利5项；主持国家自然科学基金青年项目、重庆市教委青年基金、重庆大学仪器设备功能开发项目及企业横向等课题多项。曾荣获中国分析测试协会科学技术奖（CAIA）一等奖（2020年）、赛默飞中国高校分析测试优秀青年人才二等奖（2021年）、重庆市卓越工程师大赛优胜奖（2023年）， “皖仪科技”卓越工程师提升计划（2025）。

 

报告摘要：报告将结合团队科研实践，系统阐述球差校正扫描透射电子显微术（Cs-STEM）在材料/物质科学研究中的重要作用，构建从“静态结构解析”到“动态过程追踪”，再到“数据深度挖掘”的研究范式。首先，聚焦原子级静态成像与成分分析。在阐释原子尺度成像的科学意义与技术挑战基础上，重点介绍我们在样品定向制备、FIB载网优化及快速原子级成像等方面形成的特色技术及其在解决实际材料科学问题中的优势。其次，深入探讨Cs-STEM在动态观测中的独特优势与技术难度。通过硒化锡（SnSe）、锗碲（GeTe）等案例，系统揭示材料在外场作用下原子尺度显微结构的动态响应与演变机理。最后，介绍Cs-STEM图像深度解析与微结构定量化分析。通过实例展示如何对Cs-STEM图像进行深度处理与智能解析，以提取晶格畸变、缺陷统计、化学有序性等深层定量信息，实现从“观测原子”到“理解构效关系”的跨越。